报告题目：基于微流控芯片的单细胞电学/力学特性高通量检测技术

报 告 人：王军波 研究员

中国科学院电子学研究所传感技术国家重点实验室副主任

中国科学院大学岗位教授，北京市科技新星

主 持 人：卢革宇 教授

报告时间：2016年3月21日上午10:00

报告地点：唐敖庆楼D314报告厅

主办单位：电子科学与工程学院

集成光电子学国家重点联合实验室

报告人：王军波，男，研究员，博士生导师，中国科学院电子学研究所传感技术国家重点实验室副主任，中国科学院大学岗位教授，北京市科技新星。担任中国仪器仪表学会微纳器件及系统技术分会常务理事兼副秘书长、中国半导体行业协会MEMS分会副理事长、吉林省汽车电子协会理事、中国电子学会高级会员、IEEE会员。主要从事MEMS传感器、微流控芯片、传感器系统等研究工作，研制出综合精度达0.01%F.S.的谐振式压力传感器、高性能MEMS电化学地震检波器、微惯性传感器、微流控单细胞检测芯片等。发表论文160余篇，申请国家发明专利34项，授权16项。获第17届中国国际工业博览会创新奖。

摘要：单细胞检测技术是生命科学与信息技术的学科交叉领域前沿，从单细胞生物特性层面探索生命活动规律具有重要的科学意义。本报告主要从单细胞生物物理特性检测的角度出发，介绍基于微流控芯片（MEMS芯片实验室）的单细胞电学和力学特性的高通量检测方法。